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扫描后可得到信噪比极高的光学横断面,分辨率比普通光学显微镜有很大提高。可无损伤地对样品作不同深度的层扫描和荧光强度测量,不同焦平面的光学切片经三维重建后能得到样品的三维立体结构。 2100433B