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粒度分析新进展

2022/07/16168 作者:佚名
导读:随着纳米材料在高心技术产业、国防、医药等领域的广泛应用,颗粒测量技术将向测量下限低、测量范围广、测量准确度和精确度高、重现性好等方向发展。因此,对颗粒测量技术的要求也越来越高。综观各种颗粒测量方法和技术,为适应颗粒粒度分析的更高要求,光散射法、基于颗粒布朗运动的测量方法和质谱法等颗粒粒度分析手段将更加完善并得到更广泛的应用。为了适合纳米科技发展的需要,纳米材料的粒度分析方法逐步成为粒度分析的重要内

随着纳米材料在高心技术产业、国防、医药等领域的广泛应用,颗粒测量技术将向测量下限低、测量范围广、测量准确度和精确度高、重现性好等方向发展。因此,对颗粒测量技术的要求也越来越高。综观各种颗粒测量方法和技术,为适应颗粒粒度分析的更高要求,光散射法、基于颗粒布朗运动的测量方法和质谱法等颗粒粒度分析手段将更加完善并得到更广泛的应用。为了适合纳米科技发展的需要,纳米材料的粒度分析方法逐步成为粒度分析的重要内容。适合纳米材料粒度分析的方法主要是激光动态光散射粒度分析法和光子相关光谱分析法,其测量颗粒最小粒径可以达到20nm和1nm。2100433B

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