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缺陷检查关于专利发明

2022/07/16159 作者:佚名
导读:缺陷检查方法以及利用该方法的缺陷检查装置,通过一次拍摄就能够检测出成形体表面的凹凸缺陷以及色彩缺陷。 缺陷检查原理 对于检查对象的工件表面,同时驱动同轴反射照明用的照明部和斜入射照明用的照明部,并在该照明下用照相机进行拍摄。在照明部中分别设置有发出各色彩光的光源,并且,在照明部仅点亮这些三种光源中的一种,而在照明部点亮在照明部没有点亮的一种或两种光源。 缺陷检查结构 发明的缺陷检查数据处理系统具有

缺陷检查方法以及利用该方法的缺陷检查装置,通过一次拍摄就能够检测出成形体表面的凹凸缺陷以及色彩缺陷。

缺陷检查原理

对于检查对象的工件表面,同时驱动同轴反射照明用的照明部和斜入射照明用的照明部,并在该照明下用照相机进行拍摄。在照明部中分别设置有发出各色彩光的光源,并且,在照明部仅点亮这些三种光源中的一种,而在照明部点亮在照明部没有点亮的一种或两种光源。

缺陷检查结构

发明的缺陷检查数据处理系统具有:客户计算机,其中具有用于取得在制造工序中作为处理对像的被检查物体的二维图像的图像取得装置、以及把用该图像取得装置取得的图像作为数据进行传输的数据传输装置;数据库,用于记录从该客户计算机传送来的图像数据;以及主计算机,其中具有用于对从该数据库中读出的上述图像数据进行缺陷信息抽取的缺陷抽取装置、以及用于根据由该缺陷抽取装置抽取的缺陷信息来判断上述被检查物体是否合格的合格与否判断装置,对上述客户计算机和主计算机分开进行构成,通过通信线路使其相连接。 2100433B

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