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对产物组分的直接测量通常采用气体色谱仪,也可采用质谱仪等其他分析仪表。这类仪表需要一段处理时间才能得出测量值,结果给控制回路带来显著的死区时间,同时成本也较高。因此,还需要利用对其他参数的测量来间接推断产物组分。常用间接测量方法包括测量温度、红外吸收、折射率和电导率等参数。通常采用直接测量和间接测量相结合的方式。直接测量仪表装在输出管道上,用于精确测量流速较慢的产物流的组分。间接测量用于检测馈流干扰引起的快速扰动,装在塔的中部,因为塔端温度对组分的变化不敏感。