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I-V测量I-V测量技术的发展

2022/07/16237 作者:佚名
导读:过去,高速脉冲/测量测试系统通常由脉冲发生器、多通道示波器[5]、互连硬件和负责集成并控制仪器的软件构成。不幸的是,这些系统受延迟的影响,信号源和测量功能之间的协同非常复杂。根据仪器的质量及其集成的情况,这种方式在产生的脉冲宽度及其占空比方面还有局限性。即时不管这些局限性,这些早期脉冲式I-V测试系统的用户已开始寻求将其用于各种其它特征分析任务,包括非易失性存储器测试、超快NBTI[6]可靠性测试

过去,高速脉冲/测量测试系统通常由脉冲发生器、多通道示波器[5]、互连硬件和负责集成并控制仪器的软件构成。不幸的是,这些系统受延迟的影响,信号源和测量功能之间的协同非常复杂。根据仪器的质量及其集成的情况,这种方式在产生的脉冲宽度及其占空比方面还有局限性。即时不管这些局限性,这些早期脉冲式I-V测试系统的用户已开始寻求将其用于各种其它特征分析任务,包括非易失性存储器测试、超快NBTI[6]可靠性测试和很多其它应用。但是,由于这些系统动态量程有限,它们仍然保留了一些特殊的技术。

*文章为作者独立观点,不代表造价通立场,除来源是“造价通”外。
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