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当今微电子薄膜,光学薄膜,抗氧化薄膜,巨磁电阻薄膜,高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用,在工业生产的薄膜,其厚度是一个非常重要的参数,直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜,由于电路集成程度的不断提高,薄膜厚度的任何微小变化,对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外,薄膜材料的力学性能,透光性能,磁性能,热导率,表面结构等都与厚度有着密切的联系。
通常情况下,薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离,而实际上,薄膜的表面是不平整,不连续的,且薄膜内部存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等。因此薄膜的厚度大至可以分成三类:形状厚度,质量厚度,物性厚度。形状厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离;质量厚度指的是薄膜的质量除以薄膜的面积得的厚度,也可以是单位面积所具有的质量(g/cm2);物性厚度指的是根据薄膜材料的物理性质的测量,通过一定的对应关系计算而得到的厚度。
当一个方向的长度比其它两个方向的长度小时,这种结构称之为薄膜。
涂料使用的方式有很多种,不同的方式膜厚厚度不一样,不知道你说的是哪种工艺?例如有辊涂,喷涂,淋涂等,然后根据不同的需求也有要求,就拿辊涂来说吧,如果产一般的装饰用,干膜厚在13到18个微米之间,当然你...
大棚常用的薄膜有聚氯乙烯薄膜和聚乙烯薄膜。薄膜厚度为0.1~0.12毫米。通常双层薄膜比单层薄膜能提高室温4~6℃。两层薄膜间隔一般为15-30厘米。大棚在薄膜外还可以再覆盖可以卷收的稻草帘。
PVC薄膜透明度差于POE,但比POE耐磨,抗拉不易撕裂,区别方法:1.拉-PVC不易撕破,撕破后边缘成锯齿状,POE易撕破,撕破后边缘成直线状.2.PVC不易燃烧,燃烧时火焰成蓝色.离开火源自动熄灭...
随着科技的进步和精密仪器的应用,薄膜厚度的测量方法有很多,按照测量的方式分可以分为两类:直接测量和间接测量。直接测量指应用测量仪器,通过接触(或光接触)直接感应出薄膜的厚度,常见的直接法测量有:螺旋测微法、精密轮廓扫描法(台阶法)、扫描电子显微法(SEM);间接测量指根据一定对应的物理关系,将相关的物理量经过计算转化为薄膜的厚度,从而达到测量薄膜厚度的目的。常见的间接法测量有:称量法、电容法、电阻法、等厚干涉法、变角干涉法、椭圆偏振法。按照测量的原理可分为三类:称量法、电学法、光学法。常见的称量法有:天平法、石英法、原子数测定法;常见的电学法有:电阻法、电容法、涡流法;常见的光学方法有:等厚干涉法、变角干涉法、光吸收法、椭圆偏振法。
光纤表面薄膜厚度的测量
表面镀膜的长周期光纤光栅传感器的灵敏度与膜层厚度有很大关系,膜层厚度的控制与测量成为制作高灵敏度镀膜长周期光纤光栅传感器的关键一环,本文讨论了几种镀膜方式及相应的薄膜厚度测量方法。
X射线反散射法测量塑料薄膜厚度
为实现快速、无损、精确的塑料薄膜厚度分析,讨论了XRF方法在塑料薄膜厚度测量中的应用,采用源初级射线散射法对塑料薄膜厚度进行相对测量。结果表明,厚度在10~800μm时,反散射X射线荧光强度与塑料薄膜厚度线性关系良好。对仪器标定后进行200 s快速测量,测量的厚度绝对误差<3μm(10~135μm),相对误差<4%(36~576μm),有较高的测量精度。XRF方法可用于塑料薄膜厚度的测量,该法对塑料工业的生产有现场指导的意义。
薄膜等包装材料厚度是否均匀一致,是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀,不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等,更会影响薄膜的后续加工。
名称:薄膜厚度测量仪
型号:CHY-C2
薄膜厚度测量仪的技术指标
测量范围:0~2mm;0~6mm,12mm(可选)
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)
净 重:33kg