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根据有力矩理论计算,不连续应力中也含有薄膜应力分量,但属二次应力。由于薄膜应力存在于整个壁厚,一旦发生屈服就会出现整个壁厚的塑性变形。在压力容器中,其危害性大于同等数值的弯曲应力(弯曲应力沿壁厚呈线性或非线性分布)。 ——摘自《安全工程大辞典》(1995年11月 化学工业出版社出版)……
1、一次应力 为平衡压力与其它机械载荷所必须的法向应力或剪应力。一次应力分为以下三类: 1.一次总体薄膜应力 是影响范围遍及整个结构的一次薄膜应力(primary membrane stress)。在塑性流动过程之中一次总体薄膜应力不会重新分布,它将直接导致结构破坏。
2.一次局部薄膜应力 应力水平大于一次总体薄膜应力,但影响范围仅限于结构局部区域的一次薄膜应力。当结构局部发生塑性流动时,这类应力将重新分布。若不加以限制,则当载荷从结构的某一高应力区传递到另一低应力区时,会产生过量塑性变形而导致破坏。
3. 一次弯曲应力 平衡压力或其他机械载荷所需的沿截面厚度线性分布的弯曲应力。二次应力 为满足外部约束条件或结构自身变形连续要求所须的法向应力或剪应力。二次应力的基本特征是具有自限性,即局部屈服和小量变形就可以使约束条件或变形连续要求得到满足,从而变形不再继续增大。只要不反复加载,二次应力不会导致结构破坏。峰值应力 由局部结构不连续或局部热应力影响而引起的附加在一次加二次应力上的应力增量。2100433B
可用后张法提供预应力
预应力是为了改善结构服役表现,在施工期间给结构预先施加的压应力。结构服役期间预加压应力可全部或部分抵消荷载导致的拉应力,避免结构破坏,常用于混凝土结构。在工程结构构件承受外荷载之前,对受拉模块中的钢筋...
预应力是为了改善结构服役表现,在施工期间给结构预先施加的压应力。结构服役期间预加压应力可全部或部分抵消荷载导致的拉应力,避免结构破坏,常用于混凝土结构。在工程结构构件承受外荷载之前,对受拉模块中的钢筋...
悬挂式支座的薄壁储液壳薄膜应力的简化计算
分析薄壁壳体的应力时,采用薄膜理论,应力沿厚度均匀分布,壳体材料的强度可以合理利用,是最理想的应力状态。而传统的薄膜应力计算方法比较复杂。针对两种不同结构形式的薄壁储液壳进行应力计算,得出求解薄膜应力的简便计算方法,该方法适用于能应用薄膜理论计算的任何一种薄壁储液壳的两向薄膜应力。
土石坝防渗土工薄膜应力计算方法比较
土石坝防渗土工薄膜应力计算方法比较沈永福(成都勘测设计研究院成都,610072)1前言作为一种优良的防渗材料(渗透系数为1×10(-11)~1×10(-12)cm/s),以各种聚合物材料(塑料和合成橡胶)制成的薄膜,因施工简便、费用低廉,在上石坝防渗...
专业膜片联轴器厂家如何分析膜片联轴器扭矩产生的薄膜应力?膜片联轴器是一种牢固联接安装,在机器正常运转时是不可以随意脱开的,要脱开必需停机。以将联轴器的受力总结为下列四种,并给出各种力的盘算办法,以八孔束腰式膜片为研讨工具。
1、扭矩产生发生的薄膜应力。设传送的扭矩为T(N.m),总片数为m,关于8孔螺栓,由简化前提知:单片膜片的转矩T1=T/m,每个主螺栓上所受的力为F=T/4mR。
2、因为轴向装置的偏差,使膜片沿轴线偏向发作弯曲变形。该位移加载在中心螺栓孔处的轴线偏向,径向位移和轴向位移牢固。在两头的两其中间空来施加束缚,中心孔来接受载荷。如是这样就把它作为静定简支机构来处置。
3、角向装置偏差惹起的弯曲应力。因为在轴线角向的装置实践偏差,使膜片沿轴线偏向发作周期性弯曲变形,并且它是决议联轴器膜片疲倦寿命的重要缘由。依据角向偏向盘算所惹起的中心螺栓孔一周在轴线偏向的位移,径向位移和轴向位移牢固。经过角度倾斜能够求出规复力矩H的巨细,普通状况下,联轴器膜片的角位移是很小的,因而膜片变形属于小变形,能够应用薄板小挠度弯曲实际来分析。
4、高速扭转时因为惯性所产生发生的离心应力。假定螺栓与膜片联轴器材料雷同,可盘算得各自的质量,依据所处的地位和螺旋角度,可算的向心力,且感化在总质心上。高转速机器的离心惯性力在构造的应力盘算中非常紧张,其离心惯性力能够按径向力F=(2∏n/60)2rp加载,偏向沿径向向外,牢固中心螺栓孔的径向位移、周向位移和轴向位移,周边无其他载荷作用。
本实验设备用于对AMOLED和氧化物TFT背板各层薄膜的拉应力(tensile)、压应力(compressive)、表面曲率和翘曲进行精确测量,得到应力分布状况mapping图形,是深入进行氧化物TFT背板和AMOLED研发必不可少的一个测试设备,通过了解应力分布,可以分析其产生的原因,探索减低和消除应力的方法,减少器件缺陷,提高器件均匀性和器件寿命。 2100433B
1)XY双向程序控制扫描平台,最大扫描范围:300mm*300mm; 2)精密光学编码定位控制,使得空间最小扫描步进/分辨率:小于2微米(XY双向); 3)系统测试最大扫描速度:大于20mm/sec(XY方向); 4)设备基于高精度MOS多光束二维阵列传感器技术,采用非接触测量方式,可通过单次扫描测试同时测试薄膜的XY轴向应力值; 5)曲率半径分辨率优于50km,平均曲率分辨率优于2×10-5 (1/m); 6)薄膜曲率测试范围:2m-50km; 7)基于直径200mm的标准样片,在标准样片最大翘曲高(基。