CX-500插回损测试仪是深圳创欣科技开发研出的的一款精密的光插入损耗和回波损耗检测仪表。其具有最佳的性能价格比,是用于光有源器件和光无源器件的插入损耗回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测的最理想的测量工具,是光纤通信系统研究、开发和生产，以及施工、维护等部门必备的基本和理想测试仪器。

CX-500插回损测试仪可以进行宽动态范围及高精度的光插入损耗回波损耗测量。由于采用了大动态范围和微弱信号检测等先进的信号处理和软件处理技术,它对光回波损耗可在-75～0dB的动态范围内进行测量,具有当前国际先进水平。

主要特点

*超强电路设计，对大动态范围和微弱信号精确检测分析处理

*回损测试动态范围达75dB

*插损及光功率计测试动态范围大(-80dBm～ 3dBm)

*功率计模块波长与光源模块的波长联动，明显减少操作步骤

*整机外观紧凑、美观、实用，指标稳定、可靠，操作简单

*插回损采用双液晶显示，有效减轻操作人员视觉疲劳

*独特的光源接头可拆卸便捷清洁设计并提供全面的功率计接口

光回波损耗测试仪光回波损耗的定义

光传输系统中，当入射光传输至光器件时，入射光总有部分光被光器件反射回来。其中后向反射光功率与入射光功率的比值称为该器件的反射率R。

光回波损耗R_L(dB)定义为

R_L(dB) = 10lg(1/R)

光回波损耗测试仪光回波损耗的影响

光回波损的测量对象主要是高速光纤传输系统中的各种连接器和光器件以及由它们组成的系统。这些光器件和子系统的后向反射对系统的影响包括：使得传输的光信号减弱；与入射光信号产生干涉现象；在数字传输系统中增加误码率；在模拟传输系统中降低信噪比。

由于后向反射光会回到光源，较多的后向反射对光源造成的影响包括：引起光源的中心波长波动；引起光源的输出功率波动；某些情况下会损害光源。此外，光源中心波长的波动也会引起光路接收端的探测器产生测量误差。

为了保证光传输系统的性能，保证系统中光源的中心波长和功率稳定，通常需要限定系统中反射回到光源的最大反射光功率。因此，测量光器件及其子系统的光回波损耗显得非常重要。

光回波损耗测试仪光回波损耗的测试方法

光回波损耗的测试方法主要有相干域反射法（OCDR），光时域反射法（OTDR）和光连续波反射法（OCWR）三种。

光相干域反射法是一种基于白光干涉仪的测试方法，可以测量光路中各位置点的多重反射光。它的优势在于有相当的测量灵敏度，但是测量范围受限于干涉仪的移动距离（10cm左右）。

光时域反射法是一种基于光脉冲反射的测试技术，在光纤测试领域应用广泛。它通过发射光脉冲，搜寻反射事件发生的位置，并通过接收返回的光脉冲来测量后向反射光功率。

光连续波反射法是一种整体测试方法，仅用于测量光路中的反射光总和。它的优势在于简单易行且测量灵敏度高，是测量后向反射光的最佳方法。

三种方法之中，光时域反射法由于受到噪声、测量距离、光脉冲宽度的影响，其测试光回波损耗的精度不高。另外，由于存在盲区（发生在强反射后）现象，它不能精确测量紧随盲区之后的弱反射，因此，其测试精度远低于光连续波反射法。光连续波反射法不受强反射事件的影响，其测试装置也不受噪声、测量距离、光脉冲宽度的影响，故而应用比较普遍。

国产典型光回波损耗测试仪是使用光连续波反射法完成回波损耗测试的，它通过把回波损耗值已知的光校准件反射的光功率与被测光器件反射的光功率进行比较，准确测出被测光器件的回波损耗值。

光回波损耗测试仪测试装置及测量准确度的影响因素

1、测试装置

使用光连续波反射法进行光回波损耗测试的装置十分简单，主要包括激光源、探测器、光耦合器，测试装置示意图如图1-1所示。

图1-1中参数说明如下：P_s为激光源发射出的光功率；P_I为入射到待测件的光功率；P_RD为待测件后向反射光功率；P_DD为探测器接收到的光功率；k₁,k₂为耦合器的耦合比；S为光耦合器的方向性；R_DUT为待测件的反射率。

测试装置中，激光源发射出的光经过光耦合器到达待测件，被待测件反射，产生的反射光经光耦合器由探测器接收。为消除待测件之后的反射，应在待测件之后靠近待测件的位置处对光纤实施终止反射。

由图1-1可得

P_I=P_sk₁

P_RD=P_IR_DUT

P_DD=P_RDk₂ P_sS

待测件的光回波损耗R_L(dB)为

R_L(dB)=10lg(1/R_DUT)=10lg(P_I/P_RD)

2、测量准确度的影响因素

测试装置中各组成部分（如激光源、光耦合器、探测器、标准反射件等）均会对测量准确度产生影响，同时测试装置的整体光路特性（如干涉效应、光路寄生反射大小等）也会影响测量的准确度。

1） 激光源的影响。测试过程中应保证激光源发射的光功率稳定；否则其光功率变化会直接造成测量误差。由于装置中光路存在反射，会影响激光源的光功率稳定，因此需要对激光源进行光隔离，以保护激光源不受反射光的影响，使激光源发射稳定的光功率。一般在激光源和光耦合器之间接入光隔离器或光衰减器，以获得合适的隔离度。

2） 光耦合器的影响。光在单模光纤中传输，存在两个垂直的偏振态。光路中光纤的任何机械拉伸和移动均会产生相应的机械应力，导致双折射现象，使光的偏振态改变。偏振态的变化又使光耦合器的耦合比发生变化，从而影响测量的准确度。测试过程中应避免移动测试装置光路中的待测件之前的光纤，以保证光路中光的偏振态不变。

测量光回波损耗的装置中，应优先选用偏振敏感度较低的光耦合器。另外，光纤中偏振态变化会使测量装置的显示值波动，因此测试中应以稳定的显示值为准。

3） 探测器的影响。测试装置中探测器的性能直接影响测量的不确定度。由于待测件回波损耗值高（可高达70dB），其反射光功率信号相当微弱，因此探测器应有较高的灵敏度，有足够大的测量范围，以保证探测到的信号不被噪声淹没。探测器及其信号放大电路的线性误差也直接影响测量精度。如果待测件的反射光功率和标准反射件的反射光功率之间存在几个量程的差别，那么量程间的非线性误差将会构成待测件测量误差的一部分。因此，测量前应对探测器单元的线性仔细校准，使其在整个测量范围内有很好的线性，以保证测量的准确性。

4） 标准反射件的影响。标准反射件的反射率接近其理论反射率，故而被采用作为参考反射标准。理论上，垂直的玻璃空气界面的反射率为0.035，玻璃与金界面的反射率为0.98。实际使用中，垂直切口的光纤端面经过良好的抛光处理后，与空气界面的反射率接近理论值0.035，其回波损耗约为14.6dB，不确定度一般在

5） 光干涉效应的影响。当激光源的相干长度大于从光耦合器到待测件的距离的两倍时，将会发生干涉现象，使探测器测量值波动。从待测件反射回来的光与从激光源经光耦合器直接到达探测器的光由于具有恒定的相位差会产生干涉，当两者振幅相同且偏振方向一致时，干涉现象最为明显。为减小干涉效应的影响，可增加光耦合器到待测件之间的光路长度，使干涉条件不满足。普通F-P激光器的相干长度一般小于十几毫米，远小于光耦合器到待测件之间的距离，所以干涉效应的影响很小。只有在使用线宽很窄的DFB激光器时，才需要考虑干涉效应的影响。

6） 光路寄生反射大小的影响。由于测试装置中包括多种光器件及多个连接点，使测试装置自身就存在寄生反射，较大的寄生反射会降低信噪比，降低测量范围。由式R_L(dB)=10lg[(P_ref-P_p)/(P_meas-P_p)] 10lg(1/R_ref)

可知，当待测件的后向反射光功率接近寄生反射光功率时，寄生反射光功率的微小变化会导致测量结果的较大变化。因此测试装置中的光器件应具有较高的回波损耗和较高的隔离度，以减小寄生反射的影响。