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■ 晶圆硅片测试尺寸: 50 mm - 300mm.
■ 厚度测试范围: 1000 um , 可扩展到 1700 um.
■ 厚度测试精度: +/-0.25um
■ 厚度重复性精度: 0.050um
■ TTV 测试精度 : +/-0.05um
■ TTV 重复性精度 : 0.050um
■ 弯曲度测试范围: +/-500um [+/-850um]
■ 弯曲度测试精度: +/-2.0um
■ 弯曲度重复性精度: 0.750um
■ 晶圆硅片导电型号: P 或 N 型
■ 材料: Si , GaAs , InP , Ge 等几乎 所有半导体材料
■ 可用在: 切片后、磨片前、后, 蚀刻,抛光 以及出厂、入厂质量检测等
■ 平面 / 缺口:所有的半导体标准平面或缺口
■ 硅片安装:裸片,蓝宝石 / 石英基底, 黏胶带
■ 连续 5 点测量
■ 无接触测量
■ 适用的晶圆材料包括Si,GaAs,InP,Ge等几乎所有的材料
■ 厚度和 TTV 测量采用无接触电容法探头
■ 高分辨率液晶屏显示厚度和 TTV 值
■ 性价比高
■ 菜单式快速方便设置
■ 高分辨率液晶 LCD 显示
■ 提供和计算机连接的输出端口
■ 提供打印机端口
■ 便携且易于安装
■ 为晶圆硅片关键生产工艺提供精确的无接触测量
■ 高质量微处理器为精确和重复精度高的测量提供强力保障
■ 高质量 聚四氟乙烯晶圆测试架,为晶圆硅片精确定位提供保障
硅片测试仪(HS-NCS-300型)可以测量硅片厚度总厚度变化 TTV 、弯曲度, 该仪器适用于 Si , Ga,As , InP Ge 等几乎所有的材料,所有的设计都符合 ASTM( 美国材料实验协会 ) 和 Semi 标准,确保与其他工艺仪器的兼容与统一。
Elcometer 106附着力测试仪操作简单携带方便,测量范围广泛。应用范围包括油漆或桥面喷浆,钢铁、铝、混凝土上的涂层,等等。配备手提箱——适合现场测试 手工操作——无需电源 包含 EN...
儿童智力测试仪的技术参数: PPVT具有声报图片词汇性能。 CRT—C3及MOD测试均具有语音提示性能。CRT—C3为全国唯一获得准许应用于计算机进行测试的产品。 PPVT、CRT—C3测试时...
光学系统:(1)成像:标准CCD摄像机和连续变倍显微镜镜头;(2)光源:可调亮度单色冷光LED背光光源,图像中液滴边缘分辨更清晰;(3)指标:最快拍摄25帧/秒,显微镜放大率0.7-4.5倍连续变倍,...
电缆测试仪测试参数详解
电缆测试仪测试参数详解 发布时间: 2006.08.14 19:58 来源: xfbbs 作者: 目前应用最多的网络布线系统就是使用双绞线的布线系统, 其中主流的选择是超 5 类或更高的性 能的系统。 对于布线系统来说,安装人员进行的最最基本的测试就是使用连通性测试仪验证链路端到端的连 接。这些测试仪提供完整的接线图测试,使用 TDR 技术测量长度以及其他一些附加信息。这类仪 器对于测试语音线路,快速检查数据链路以及高速增长的住宅局域网布线市场是非常有帮助的。 用于布线系统验收的测试标准要求测量几个重要的电气参数以便于认证布线系统满足一定的传输 性能要求。有的测试在全世界范围内都是要进行的。每个标准都有其特定的通过 /失败极限值, 这 些极限值取决于链路的类别和链路模型的定义。 对于已安装的链路都会要求进行三项基本的测试。第一个就是 接线图测试 。接线图测试用于验 证线缆链路中每一根针脚端
接地电阻测试仪-接地装置特性参数测试仪-接地阻抗测试仪—大地网接地电阻测试仪
接地装置特性参数测试仪—接地电阻测试仪 接地阻抗测试仪—大地网接地电阻测试仪 变频接地阻抗测试仪—异频接地电阻测试仪 大地网特性参数测试系统—变频大地网接地电阻测试仪 (上海大帆电气提供) 行业现状: 对于大型地网,“接地电阻”呈现出较明显的“复数阻抗”性质,即包 含电阻分量、电抗分量,所以应当采用“接地阻抗”的概念取代“接地电 阻”。另外,接地阻抗也不是判断接地网是否安全为唯一指标。如在高土壤 电阻率地区,欲降低变电所地网的接地阻抗值,不仅十分困难,而且往往很 不经济、也很不合理。而在低土壤电阻率地区,即使地网的接地阻抗值达到 了电力行业标准 DL/T621- 1997“交流电气装置的接地”规定的要求,变电 所内的接触电压和跨步电压,也不一定处处都能满足人身安全和设备安全的 要求。随着人们对地网科学认识和评判水平进一步提高,不能仅以接地阻抗 作为接地系统的安全判据已成为行业专家共识。