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硅片测试仪

无接触硅片测试仪(HS-NCS-300型)可以测量硅片厚度总厚度变化 TTV 、弯曲度, 该仪器适用于 Si , Ga,As , InP Ge 等几乎所有的材料

硅片测试仪仪器特点

■ 无接触测量

■ 适用的晶圆材料包括Si,GaAs,InP,Ge等几乎所有的材料

■ 厚度和 TTV 测量采用无接触电容法探头

■ 高分辨率液晶屏显示厚度和 TTV 值

■ 性价比高

■ 菜单式快速方便设置

■ 高分辨率液晶 LCD 显示

■ 提供和计算机连接的输出端口

■ 提供打印机端口

■ 便携且易于安装

■ 为晶圆硅片关键生产工艺提供精确的无接触测量

■ 高质量微处理器为精确和重复精度高的测量提供强力保障

■ 高质量 聚四氟乙烯晶圆测试架,为晶圆硅片精确定位提供保障

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硅片测试仪造价信息

  • 市场价
  • 信息价
  • 询价

测试仪

  • 测试仪;智能测试仪
  • 普天领粤
  • 13%
  • 广东易初科技股份有限公司山西办事处
  • 2022-12-06
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测试仪

  • 测试仪;智能测试仪
  • 普天领粤
  • 13%
  • 广东易初科技股份有限公司山东办事处
  • 2022-12-06
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安规测试仪

  • 品种:安规测试仪;产品型号:GPI-825;产品描述:安规测试仪(AC耐压/绝缘)500VA;
  • 固纬仪器
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2022-12-06
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安规测试仪

  • 品种:安规测试仪;产品型号:GPI-826;产品描述:安规测试仪(AC耐压/绝缘)100VA;
  • 固纬仪器
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2022-12-06
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安规测试仪

  • 品种:安规测试仪;产品型号:GPI-735A;产品描述:AC0-5KV,DC0-6KV耐压绝缘测试仪,耐压绝缘阻抗三机一体;
  • 固纬仪器
  • 13%
  • 重庆德源胜仪器有限公司
  • 2022-12-06
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导通测试仪

  • TEXE.ALL.IV
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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软盘测试仪

  • FD-180
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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光损耗测试仪

  • MS9020A
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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光纤测试仪

  • FTM120-03
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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光损耗测试仪

  • MS9020A手持式
  • 台班
  • 韶关市2010年7月信息价
  • 建筑工程
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测试仪

  • Elix L TOC UPGRADE KITTOC测试仪
  • 1台
  • 1
  • 威立雅
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2016-10-28
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测试仪

  • Elix L TOC UPGRADE KITTOC测试仪
  • 1台
  • 1
  • 默克密理博
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2016-06-17
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跳绳测试仪

  • 1. 测试受试者的下肢力量和身体协调能力,2. 测试仪自带液
  • 1台
  • 3
  • 领康/汇海/杰威
  • 中档
  • 含税费 | 含运费
  • 2019-08-07
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肺活量测试仪

  • 电子肺活量测试仪器学生儿童体检中考试呼吸训练锻炼肺活量计吹嘴
  • 1台
  • 1
  • 国产
  • 中高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2021-08-09
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往返跑测试仪

  • 2000型往返跑测试仪往返跑测试仪Return run tester采用红外线非接触测量原理 内置多种起跑模式,既可由主机发令统一起跑,实现统一计时;也可由各测试者自由起跑,独立启动该跑道计时,实现自助 计时;配合主机可完成50米×8、25米×2、10米×5往返跑等不同距离,不同往返次数的往返跑测试
  • 1台
  • 1
  • 国产
  • 中高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2021-08-09
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硅片测试仪部分技术参数

■ 晶圆硅片测试尺寸: 50 mm - 300mm.

■ 厚度测试范围: 1000 um , 可扩展到 1700 um.

■ 厚度测试精度: +/-0.25um

■ 厚度重复性精度: 0.050um

■ TTV 测试精度 : +/-0.05um

■ TTV 重复性精度 : 0.050um

■ 弯曲度测试范围: +/-500um [+/-850um]

■ 弯曲度测试精度: +/-2.0um

■ 弯曲度重复性精度: 0.750um

■ 晶圆硅片导电型号: P 或 N 型

■ 材料: Si , GaAs , InP , Ge 等几乎 所有半导体材料

■ 可用在: 切片后、磨片前、后, 蚀刻,抛光 以及出厂、入厂质量检测等

■ 平面 / 缺口:所有的半导体标准平面或缺口

■ 硅片安装:裸片,蓝宝石 / 石英基底, 黏胶带

■ 连续 5 点测量

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硅片测试仪仪器简介

硅片测试仪(HS-NCS-300型)可以测量硅片厚度总厚度变化 TTV 、弯曲度, 该仪器适用于 Si , Ga,As , InP Ge 等几乎所有的材料,所有的设计都符合 ASTM( 美国材料实验协会 ) 和 Semi 标准,确保与其他工艺仪器的兼容与统一。

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硅片测试仪常见问题

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硅片测试仪文献

轨道残压测试仪设计 轨道残压测试仪设计

轨道残压测试仪设计

格式:pdf

大小:519KB

页数: 1页

轨道残压测试仪设计

扭力测试仪校验规程 扭力测试仪校验规程

扭力测试仪校验规程

格式:pdf

大小:519KB

页数: 2页

德信诚培训网 更多免费资料下载请进: http://www.55top.com 好好学习社区 扭力测试仪校准规范 1、目的 规范扭力测试仪之校准程序 ,确保其于使用期间能维持其精密度和准确度 ,以保 证产品之测试质量 . 2、适用范围 本公司各种型号之扭力测试仪均适用之。 3、权责 3.1 品质部 QE:扭力测试仪之校准,仪器异常之处理。 4、定义 校准:在规定条件下,为确定测量仪器或测量系统所指示的量值,或实物量具 或参考物质所代表的量值, 与对应的由校准所复现的量值之间关系的一组操作。 测量准确度:测量结果与被测量真值之间的一致程度。 相对标准偏差:标准偏差与平均值的比值。 5、内容 5.1 扭力测试仪校准 5.1.1 扭力校准 5.1.1.2 把待校件与已校准件依次放在水平桌面上,分别对同一物件做对比测 试 ,并记录之。 5.1.1.3 重复量测三次,记录其读值,并与已校准件比较,

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