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抛光片

抛光片是将纳米级二氧化硅颗粒与高效粘合剂混合后,均匀地涂覆于聚酯薄膜的表面,经干燥和固化反应而成。

抛光片基本信息

抛光片使用方法

使用时只需添加纯净水作为抛光介质。在抛光过程中,抛光膜的纳米涂层会逐渐地释放出抛光颗粒,参与抛光作用,使光纤端面达到高度光滑。抛光膜可以重复使用多次,但是根据抛光机的类型、抛光条件、抛光质量要求的不同,使用次数也不相同。

1) 确定D1

精磨后的光纤端面没有任何异常深划伤或者缺陷;

2) 彻底清洁研磨机夹具和橡胶垫等部位,尤其保证橡胶垫表面完好,没有异物;

3) 向橡胶垫表面喷洒适量得纯净水,用无尘纸均匀擦试,当表面初干后,马上把抛光膜贴在上面;

4) 向抛光膜表面均匀喷洒少量的纯净水,用无尘纸均匀擦试,赶出抛光膜下面的空气;

5) 用压缩空气吹扫抛光膜表面,除去灰尘或者异物;

6) 再向抛光膜表面均匀喷洒适量的纯净水;

7) 轻放连接器夹具,使连接器端面与抛光膜均匀接触,再施加适当压力,设定抛光时间,启动研磨机开始抛光;

8) 研磨机停止工作后,小心地取下夹具,取出抛光膜,擦干以备再次使用。

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抛光片造价信息

  • 市场价
  • 信息价
  • 询价

抛光片

  • 品种:抛光片;规格(mm):100;
  • 上工
  • 13%
  • 上海菁铸物资有限公司
  • 2022-12-06
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抛光片

  • 20×20×3.2规格:20×20×3.2;材质:碳化硅;
  • 全友
  • 13%
  • 南京全友砂轮有限公司
  • 2022-12-06
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抛光砂轮片

  • 13%
  • 昆明卡鑫商贸有限公司
  • 2022-12-06
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抛光砂纸

  • 保真
  • 3M
  • 13%
  • 长春市阔天经贸有限公司
  • 2022-12-06
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弹性抛光叶轮

  • 92 盖 80#品种:砂轮;规格(mm):80;
  • 金象
  • 13%
  • 云南鼎海瑞商贸有限责任公司
  • 2022-12-06
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易熔

  • 肇庆市2003年3季度信息价
  • 建筑工程
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砂轮

  • 综合
  • 韶关市2022年6月信息价
  • 建筑工程
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砂轮

  • 综合
  • 韶关市2022年5月信息价
  • 建筑工程
查看价格

砂轮

  • (综合)
  • 韶关市翁源县2022年2月信息价
  • 建筑工程
查看价格

砂轮

  • 综合
  • 韶关市2021年12月信息价
  • 建筑工程
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抛光片

  • 新星牌
  • 30片
  • 1
  • 含税费 | 含运费
  • 2011-07-21
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抛光片

  • 125×22.23×80mm
  • 100片
  • 1
  • 博世
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2017-07-28
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抛光花片

  • 450×300 450×300全抛光花片PH(Q)
  • 2792片
  • 1
  • 冠珠
  • 中高档
  • 含税费 | 不含运费
  • 2015-12-03
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抛光砂轮片

  • 7111片
  • 1
  • 中档
  • 含税费 | 不含运费
  • 2015-10-09
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(玉米筛)

  • 长1.75m×宽1m
  • 12片
  • 2
  • 中高档
  • 含税费 | 含运费
  • 2022-08-01
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抛光片简介

由于抛光原始颗粒细微、粒度尺寸小于可见光的波长,所以均匀地分布后形成外观透明或半透明的抛光膜。专门为光纤连接器的最终超精密抛光设计开发的,使用后连接器端面没有任何划伤或缺陷,光纤高度和反射衰减指标均达到国际标准。

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抛光片常见问题

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抛光片文献

超薄硅双面抛光片抛光工艺技术 超薄硅双面抛光片抛光工艺技术

超薄硅双面抛光片抛光工艺技术

格式:pdf

大小:1.3MB

页数: 4页

MEMS器件、保护电路、空间太阳电池等的制作需要使用硅双面抛光片,并且要求抛光片的厚度很薄,传统的硅抛光片加工工艺已经不能满足这一要求。介绍了一种用于超薄硅单晶双面抛光片加工的抛光工艺方法。通过对硅片抛光机理[1]、抛光方式、抛光工艺的研究和对抛光工艺试验结果的分析,解决了超薄硅单晶双面抛光片在加工过程中碎片率高、抛光片背面表面质量不易控制的技术难题,研制出了高质量的超薄硅单晶双面抛光片。

透光片双层注射模设计 透光片双层注射模设计

透光片双层注射模设计

格式:pdf

大小:1.3MB

页数: 未知

双层注射模是满足多品种同模成型的注射模具。该具不仅解决双层注射的顶出问题,并设置了实现顺序分型的简易定距拉紧机构,且能实现流道自动脱落。

硅片制备硅抛光片检测

包括目检、几何尺寸检测和热氧化层错检测等。目检是在正面高强度光或大面积散射光照射下目测抛光片上的原生缺陷和二次缺陷。这些缺陷包括边缘碎裂、沾污、裂纹、弧坑、鸦爪、波纹、槽、雾、嵌入磨料颗粒、小丘、桔皮、浅坑、划道、亮点、退刀痕和杂质条纹等。几何尺寸的检测包括硅片的厚度、总厚度变化、弯曲度和平整度的检测。厚度为硅片中心上、下表面两个对应点之间的距离;总厚度变化为同一硅片上厚度最大值与最小值之差;弯曲度为硅片的中线面与参考平面之间距离的最大值与最小值之差;平整度指硅片表面上最高点与最低点的高度差,用总指示读数表征。硅片的热氧化层错检测是指硅抛光片表面的机械损伤、杂质沾污和微缺陷等在硅片热氧化过程中均会产生热氧化层错,经择优腐蚀后,在金相显微镜下观测热氧化层错的密度,以此鉴定硅片表面的质量。2100433B

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重掺砷硅单晶及抛光片获奖记录

2005年度国家科学技术进步奖二等奖。 2100433B

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重掺砷硅单晶及抛光片参与情况

主要完成人:屠海令、周旗钢、王 敬、方 峰、万关良、张果虎、常 青、李铁柱、刘 斌、戴小林

主要完成单位:北京有色金属研究总院、有研半导体材料股份有限公司、国泰半导体材料有限公司

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