前言

第1章 系统安装

1.1 运行环境

1.2 安装步骤

1.3 启动《最新电子器件置换手册（软件版）》

1.4 注册《最新电子器件置换手册（软件版）》

1.5 卸载《最新电子器件置换手册（软件版）》

第2章 主界面介绍

2.1 功能划分

2.2 菜单区

2.2.1 “打开”菜单

2.2.2 “前进”、“后退”菜单

2.2.3 “搜索”菜单

2.2.4 “注释”菜单

2.2.5 “自定义”菜单

2.2.6 “属性”菜单

2.2.7 “支持”菜单

2.2.8 “帮助”菜单

2.2.9 “退出”菜单

2.3 工具栏

2.4 导航区

2.5 资料显示区

第3章 主要功能使用介绍

3.1 数据保存

3.2 数据查询

3.3 快速查询

附录A 《最新电子器件置换手册（软件版）》查阅说明

附录B 常用电子器件的简介

B.1 晶体二极管简介

B.1.1 晶体二极管的分类

B.1.2 晶体二极管的命名

B.1.3 晶体二极管主要参数

B.1.4 晶体二极管的结构与符号

B.1.5 晶体二极管的选用

B.1.6 晶体二极管的检测

B.2 晶体三极管简介

B.2.1 晶体三极管的分类

B.2.2 晶体三极管的命名

B.2.3 晶体三极管的参数

B.2.4 晶体三极管的结构与符号

B.2.5 晶体三极管的选用

B.2.6 晶体三极管的检测

B.3 晶闸管简介

B.3.1 晶闸管的分类

B.3.2 晶闸管的命名

B.3.3 晶闸管的参数

B.3.4 晶闸管的结构与符号

B.3.5 晶闸管的选用

B.3.6 晶闸管的检测

B.4 场效应晶体管简介

B.4.1 场效应晶体管的分类

B.4.2 场效应晶体管的命名

B.4.3 场效应晶体管结构与图形符号

B.4.4 场效应晶体管参数

B.4.5 场效应晶体管的使用

B.4.6 场效应晶体管的检测

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2.晶体三极管性能好坏的检测

已知类型和引脚排列的晶体三极管，可按下述方法来判断其性能的好坏。

（1）反向击穿电流，ICEO的检测

普通晶体三极管的ICEO可通过测量晶体三极管发射极E与集电极C之间的电阻值来进行估测。测量时，将万用表置R×1k档，NPN型管的集电极C接黑表笔，发射极E接红表笔；PNP管的集电极C接红表笔，发射极E接黑表笔。若测量晶体三极管C、E极之间的电阻值偏小，则表明被测管子的漏电流较大；若测得C、E极之间的电阻值接近零，则说明其C、E极之间已击穿损坏；如果C、E极之间的电阻值随着管壳温度的增高而变得很小，则说明该管的热稳定性不良。

也可以用晶体管直流参数测试表的ICEO档来测量晶体三极管的反向击穿电流，具体作法是：将hFE/ICEO选择开关置于ICEO档，选择晶体三极管的极性，将被测管的三个引脚插入测试孔，再按下ICEO键，即可从表中读出被测晶体三极管的ICEO值。

（2）反向击穿电压VCEO的检测

使用晶体管直流参数测试表的V（BR）测试功能，即可测得晶体三极管的反向击穿电压。测量时，先选择被测晶体三极管的极性，再将晶体三极管插入测试孔，按动相应的V（BR）键，即可从表中读出被测晶体三极管的VCEO值。

（3）放大能力β的检测

晶体三极管的放大能力可以用万用表的hFE档测量。测量时，先将万用表置于ADJ档进行调零后，再拨至hFE档，将被测晶体管的C、B、E三个引脚分别插入相应的测试插孔中，即可从hFE刻度线上读出管子的放大倍数。

若万用表无hFE挡，也可使用万用表的R×1k档来估测晶体三极管的放大能力，具体作法是：对于PNP型管，将黑表笔接E、红表笔接C，再在B、C极之间并接1只电阻（硅管为100kΩn、锗管为20kΩ），然后观察万用表的阻值变化情况。万用表指针摆动幅度越大，说明晶体三极管的放大能力越强。如果万用表指针不变或摆动幅度较小，则说明晶体三极管无放大能力或放大能力较差。对于NPN型管，测试时应将黑表笔接C、红表笔接E，具体测试方法与PNP型管相同。

3.特殊晶体三极管性能好坏的检测

（1）达林顿晶体三极管的检测

1）普通达林顿晶体三极管的检测

将万用表置R×1k或R×10k档，测量达林顿晶体三极管各电极之间的正、反向电阻值。正常时，C-B极之间的正向电阻为3～10kΩ（测NPN型管时黑表笔接基极B，测PNP型管时黑表笔接集电极C），反向电阻为无穷大；E-B极之间的的正向电阻是C-B极之间正向电阻的2～3倍（测NPN型管时黑表笔接基极B、测PNP型管时黑表笔接发射极E），反向电阻值为无穷大；C-E极之间的正、反向电阻值均接近无穷大。若测得C-E极或B-E极、B-C极之间的正反向电阻值均接近零，则说明该管已击穿损坏；反之，若测得为无穷大，则说明该管已开路损坏。

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