那么大地的电阻率是如何测量的呢?

上面我们介绍了导体、半导体、绝缘体等，但大地导体是属于哪一类呢?这个问题困扰了科学工作者。而且，地层构造的不均匀还会使大地电阻率随入地电流的频率变化而变化;而且在地层结构不均匀时，计算强电流工作频率基波对电阻率造成的影响与强电流工作频率谐波对电阻率造成的影响并不相同。

1937年W.G.Radley等科研人员首先解决了两层大地构造与均匀大地构造这两种不同情况下，大地电阻率等效换算的问题。并绘制了换算曲线，被CCITT(国际电报电话咨询委员会)国际标准组织采用。

1949年，E.D.Sunde等专家通过积分的方式，解出了多层也就是任意层大地构造情况下的大地阻抗。并且为解决大地任意层构造与大地均匀构造之间大地电阻率的等效换算问题，奠定了有关理论基础。

现在，地质部门通过直流电测深法来探明大地的构造。地层结构不均匀时，各层的大地电阻率不同。这时通过等效换算就可以知道相应的大地电阻率了。