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阻垢剂使用

2018/06/19207 作者:佚名
导读: 可用于评定阻垢剂性能的方法很多,如用扫描电子显微镜可观察晶体的成核、生长、聚集和吸附过程。用原子力显微镜研究有阻垢剂存在的碳酸钙晶体的生长,可以看出阻垢剂对生长的抑制作用。用X一衍射法可以比较在不同阻垢剂存在的条件下垢样的细碎程度、晶体的畸变程度及晶系的变化。用粒径分布仪可研究在不同阻垢剂存在的条件下,成垢物质的成核和生长动力学。但这些方法大多需借助专门的仪器,只能被研究机构采纳,很难在广大

可用于评定阻垢剂性能的方法很多,如用扫描电子显微镜可观察晶体的成核、生长、聚集和吸附过程。用原子力显微镜研究有阻垢剂存在的碳酸钙晶体的生长,可以看出阻垢剂对生长的抑制作用。用X一衍射法可以比较在不同阻垢剂存在的条件下垢样的细碎程度、晶体的畸变程度及晶系的变化。用粒径分布仪可研究在不同阻垢剂存在的条件下,成垢物质的成核和生长动力学。但这些方法大多需借助专门的仪器,只能被研究机构采纳,很难在广大用户和现场评定中推广。

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