图像传感器是将光信号转换成电信号的半导体器件。截至2012年8月,传统的图像传感器包括电荷耦合器件(ChargeCoupledDevices,CCD)图像传感器、互补金属氧化物半导体(ComplementaryMetalOxideSemiconductor,CMOS)图像传感器。
虽然CCD图像传感器和CMOS图像传感器均是以感光二极管来实现光电转换的,但是它们具有不同的制作工艺和架构。完成光电转换之后,CCD图像传感器使用交变电压施加到相邻电极,形成移动的电势阱,从而将各个像素上的光电荷分别移动到末端检测。而CMOS则是在每一个像素上将感光电荷转化为电压,通过放大驱动以及译码选择,分别对各个像素上的光电荷进行检测。
从接口信号方面来说,通常的CCD图像传感器是一个被动器件,外部提供横向和竖向CCD驱动信号以及电子快门信号,然后在CCD信号输出端接收图像信号。而通常的CMOS图像传感器是一个主动器件,外部只要通过串行接口(通常为I2C或者SPI)设定曝光时间、放大器增益等参数,CMOS图像传感器就会在曝光时间完成后输出图像信号,伴随图像信号有指示图像信号开始和结束的同步信号,使得下游的芯片可以正确的接收和理解图像。
CCD图像传感器可分为线阵CCD和面阵CCD,其中面阵CCD的应用更为广泛。
参考图1,面阵CCD图像传感器包括摄影区域10,在摄影区域10中包括多个成行列排布的像素单元20,各像素单元20包括光电二极管23和电极24组成。
图2~图4示出了图1所示面阵CCD图像传感器工作时所需的各类驱动信号;具体地,图2示出CCD垂直驱动信号,图3示出了CCD水平驱动信号,图4示出了CCD读出驱动信号。
图1所示面阵CCD图像传感器的工作过程为:
(1)曝光:在光电二极管23中进行光电转换,将光转化为光电荷(e)并进行储存。具体地可参考图1中所示的S1,S1指的是光电转换电荷的储存。其中,光电荷的多少正比于光强。
(2)转移:首先参考图1中的S21(垂直转移),在图2所示的CCD垂直驱动信号的
(3)读出:水平CCD22的末端连接检测电路,把水平CCD22传输过来的电荷包转换成电压信号并进行CDS读出(参考图1中的S3,此处S3指的是电荷检测)。参考图1,所述检测电路可包括放大器Amp,用于在驱动信号
参考图5,信号ax和ay表示进行操作的行地址和列地址。其中,行地址(ax)有多组,通过行译码器进行译码后,分别得到各行的复位信号(RST0~RSTi),转移信号(TX0~TXi)和读出选通信号(X0~Xi)。像素阵列中的P(i,j)表示第i行、第j列的像素。每一像素中的光电二极管产生光电荷之后,在像素内部转化为电压,并按照行选输出到检测位线(BL0~BLj)。所有列的位线连接到列译码及量化模块,进行量化、列选和依次输出Dout,列选通由列地址ay译码得到。
图6示出了图5所示CMOS图像传感器的工作时序图。通常CMOS图像传感器以行的方式工作,即每一行先进行复位,然后进行曝光,最后进行读出。
参考图6,以第一行为例,R(1)表示曝光开始前的复位,然后经过曝光时间,到Read(1)表示第一行被读出。R(2)表示第二行曝光前的复位,Read(2)表示第二行被读出;R(3)表示第三行曝光前的复位,Read(3)表示第三行被读出。第二行的操作在第一行的基础上整体后移了一个行时间,第三行再在第二行的基础上后移一个行时间。
具体地,当第一行进行复位操作时,其复位信号RST1、转移信号TX1和读出选通信号X1的时序如图6中的1A所示;当第一行进行读出操作时,其复位信号RST1、转移信号TX1和读出选通信号X1的时序如图6中的1B所示。
继续参考图6,第二行的复位信号RST2、转移信号TX2和读出选通信号X2在第二行进行复位操作时的时序如2A所示;在第二行进行读出操作时的时序如2B所示。第三行的复位信号RST3、转移信号TX3和读出选通信号X3在第三行进行复位操作时的时序如3A所示;在第三行进行读出操作时的时序如3B所示。
另外,每一行的读出包括相关双采样(CDS)过程和模数(ADC)转化过程。具体地,参选图7,所述CDS过程包括RST-SHR-TX-SHS四个步骤。RST表示读出前复位,SHR表示检测点复位后采样复位电平,TX表示电荷转移到检测点,SHS表示电荷转移后采样信号电平。两次采样所得电平的差值表示了经过CDS之后的信号。此后是对每一个像素信号的量化读出过程。通过列译码,对一行内像素的信号电平分别进行量化和读出。
由上可以看出,CCD图像传感器与CMOS图像传感器无论在架构上还是在操作方式上都存在很大的差异,因而这两者之间很难做到兼容。由于CMOS图像传感器技术的巨大进步,在很多应用场合,CMOS图像传感器代替了CCD图像传感器,但是这种替代限于整体上的替代,而不是兼容性的替代。然而,在某些场合,CCD图像传感器的应用环境以及CCD图像处理系统得到了充分的优化,2012年8月之前整体性的替代难以满足其性能上的要求,兼容性的替代更为适宜。但是,仍没有能够同CCD电学信号相兼容的CMOS图像传感器。