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植物冠层图像分析仪
Sunscan冠层分析仪在测量小麦叶面积指数中的应用
Sunscan冠层分析仪在测量小麦叶面积指数中的应用
Sunscan 冠层分析仪可以间接测量叶面积指数,具有简单快捷,对植物无损伤的特点,但是,受田间因素影响,Sunscan冠层分析仪测定的植物叶面积指数与传统手测方法测定的叶面积指数有一定的差异,本研究在大田情况下,通过与传统手测叶面积进行比较,分析Sunscan冠层分析仪在小麦叶面积测定中的可行性。结果表明,Sunscan冠层分析仪测定的叶面积指数与传统方法测定的叶面积指数有很好的相关性(r2=0.59~0.86)。随着小麦生育进程发展,两者的相关性有下降的趋势,主要因为小麦生育后期,冠层枯黄叶片影响Sunscan冠层分析仪的测定数据,导致测定结果偏大;而叶片之间的遮蔽对两者相关性并没有显著影响。因此,在实际的测量过程中,通过抬高底端的测量位置可以减小枯黄叶片对测量的影响。
基于植物冠层分析仪单线多角度测量的叶面积指数与叶倾角分布关系
基于植物冠层分析仪单线多角度测量的叶面积指数与叶倾角分布关系
叶面积指数(LAI)和叶倾角分布(LAD)作为研究植被冠层结构的重要参数,二者间存在一定的定量关系。以白桦(Betula platyphylla)纯林为研究对象,基于单线多角度观测结果、Norman和Campbell线性最小二乘反演技术(NC技术)以及Compbell模型三者结合,分析LAI和LAD间的定量关系。NC技术能很好地反演叶倾角分布,对实测的叶倾角分布的解释能力达90%以上;根据NC技术计算得到的叶倾角概率密度较实际偏大,Campbell模型模拟结果则偏小,尤其在[0°,10°]区间内;2种技术存在一种互补关系,而2种技术计算得到的结果取平均时,对实测叶倾角分布的解释能力得到一定提高,达96%以上;此外,多角度测量中利用NC技术反演时,叶倾角分布区间个数一般以取观测太阳天顶角个数的1/2为最佳。本研究为LAI和LAD的间接测量提供了方法,同时为大范围的LAI测量提供了验证手段,也为定量遥感模型参数优化提供了理论依据。