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比表面积测试方法有两种分类标准。一是根据测定样品吸附气体量多少方法的不同,可分为:连续流动法、容量法及重量法(重量法现在基本上很少采用);另一种是根据计算比表面积理论方法不同可分为:直接对比法比表面积分析测定、Langmuir法比表面积分析测定和BET法比表面积分析测定等。同时这两种分类标准又有着一定的联系,直接对比法只能采用连续流动法来测定吸附气体量的多少,而BET法既可以采用连续流动法,也可以采用容量法来测定吸附气体量。
连续流动法是相对于静态法而言,整个测试过程是在常压下进行,吸附剂是在处于连续流动的状态下被吸附。连续流动法是在气相色谱原理的基础上发展而来,由热导检测器来测定样品吸附气体量的多少。连续动态氮吸附是以氮气为吸附气,以氦气或氢气为载气,两种气体按一定比例混合,使氮气达到指定的相对压力,流经样品颗粒表面。当样品管置于液氮环境下时,粉体材料对混合气中的氮气发生物理吸附,而载气不会被吸附,造成混合气体成分比例变化,从而导致热导系数变化,这时就能从热导检测器中检测到信号电压,即出现吸附峰。吸附饱和后让样品重新回到室温,被吸附的氮气就会脱附出来,形成与吸附峰相反的脱附峰。吸附峰或脱附峰的面积大小正比于样品表面吸附的氮气量的多少,可通过定量气体来标定峰面积所代表的氮气量。通过测定一系列氮气分压P/P0下样品吸附氮气量,可绘制出氮等温吸附或脱附曲线,进而求出比表面积。通常利用脱附峰来计算比表面积。
特点:连续流动法测试过程操作简单,消除系统误差能力强,同时具有可采用直接对比法和BET方法进行比表面积理论计算。
容量法中,测定样品吸附气体量多少是利用气态方程来计算。在预抽真空的密闭系统中导入一定量的吸附气体,通过测定出样品吸脱附导致的密闭系统中气体压力变化,利用气态方程P*V/T=nR换算出被吸附气体摩尔数变化。
直接对比法比表面积分析测试是利用连续流动法来测定吸附气体量,测定过程中需要选用标准样品(经严格标定比表面积的稳定物质)。并联到与被测样品完全相同的测试气路中,通过与被测样品同时进行吸附,分别进行脱附,测定出各自的脱附峰。在相同的吸附和脱附条件下,被测样品和标准样品的比表面积正比于其峰面积大小。
计算公式如下:
Sx:被测样品比表面积 S0:标准样品比表面积,
Ax:被测样品脱附峰面积 A0:标准样品脱附峰面积
Wx:被测样品质量 W0:标准样品质量
优点:无需实际标定吸附氮气量体积和进行复杂的理论计算即可求得比表面积;测试操作简单,测试速度快,效率高
缺点:当标样和被测样品的表面吸附特性相差很大时,如吸附层数不同,测试结果误差会较大。
直接对比法仅适用于与标准样品吸附特性相接近的样品测量,由于BET法具有更可靠的理论依据,目前国内外更普遍认可BET法比表面积测定。
BET理论计算是建立在Brunauer、Emmett和Teller三人从经典统计理论推导出的多分子层吸附公式基础上,即著名的BET方程:
P: 吸附质分压 P0: 吸附剂饱和蒸汽压
V: 样品实际吸附量 Vm: 单层饱和吸附量
C:与样品吸附能力相关的常数
实际测试过程中,通常实测3-5组被测样品在不同气体分压下多层吸附量V,以P/P0为X轴, 为Y轴,由BET方程做图进行线性拟合,得到直线的斜率和截距,从而求得Vm值计算出被测样品比表面积。理论和实践表明,当P/P0取点在0.05-0.35范围内时,BET方程与实际吸附过程相吻合,图形线性也很好,因此实际测试过程中选点需在此范围内。由于选取了3-5组P/P0进行测定,通常我们称之为多点BET。当被测样品的吸附能力很强,即C值很大时,直线的截距接近于零,可近似认为直线通过原点,此时可只测定一组P/P0数据与原点相连求出比表面积,我们称之为单点BET。与多点BET相比,单点BET结果误差会大一些。
若采用流动法来进行BET测定,测量系统需具备能精确调节气体分压P/P0的装置,以实现不同P/P0下吸附量测定。对于每一点P/P0下BET吸脱附过程与直接对比法相近似,不同的是BET法需标定样品实际吸附气体量的体积大小,而直接对比法则不需要。
BET方程是建立在多层吸附的理论基础之上,与许多物质的实际吸附过程更接近,因此测试结果可靠性更高。但是,BET方程有其适用范围,当氮气达到饱和单层饱和吸附时相对压力小于0.05或大于0.35时,不符合BET多分子吸附模型,所得测试结果会产生偏离。
特点:BET理论与物质实际吸附过程更接近,可测定样品范围广,测试结果准确性和可信度高。
目前国内外比表面积测试统一采用多点BET法,国内外制定出来的比表面积测定标准都是以BET测试方法为基础的。
ISO 9277-2010 用气体吸附测定固态物质比表面积 BET法
GB/T 19587-2004 气体吸附BET法测定固态物质比表面积
固体有一定的几何外形,借通常的仪器和计算可求得其表面积。但粉末或多孔性物质表面积的测定较困难,它们不仅具有不规则的外表面,还有复杂的内表面。通常称1g固体所占有的总表面积为该物质的比表面积(specific surface area,单位为㎡/g)。比表面测试主要即指测试固体比表面积的方法和过程,固体尤其是多孔固体的比表面测试,无论在科研还是工业生产中都具有十分重要的意义。
比表面积是衡量物质特性的重要参量,其大小与颗粒的粒径、形状、表面缺陷及孔结构密切相关;同时,比表面积大小对物质其它的许多物理及化学性能会产生很大影响,特别是随着颗粒粒径的变小,比表面积成为了衡量物质性能的一项非常重要参量,如目前广泛应用的纳米材料。
(1)表面张力法 表面张力测定法适合于离子表面活性剂和非离子表面活性剂临界胶束浓度的测定,无机离子的存在也不影响测定结果。在表面活性剂浓度较低时,随着浓度的增加,溶液的表面张力...
利用直流四探针法测量半导体的电阻率 一,测试原理: 当四根金属探针排成一条直线,并以一定压力压在半导体材料上时,在1,4两根探针间通过电流I,则2,3探针间产生电位差V(如图所示). 根据公式可计算出...
表面张力测试仪价格是3260元 此HN系列扭矩测量仪精度高,反应敏捷,可连接电脑,规格齐全,大小可选 价格信息来自网络仅供参考。
比表面积可采用物理吸附仪或比表面积分析仪通过低温N2吸附方法进行测试。
比表面积试料层体积校准
1 2 3 平均 未装料装满水银质量 (g) 装料后装满水银质量 (g) 温度 (℃) 粉料层体积 (0.001cm 3) 实测值 比表面积试料层体积校准 校准项目
) 采用直接对比法,测试速度快,有利于生产现场快速检测; 1. 测试系统中加入滤波稳流系统,抗干扰能力强,稳定性高,不会出现市场上同类产品频繁死机现象; 2. 通过采用并联气路,可同时进行3个样品的比表面积测定,大大提高测试效率; 3. 独立的样品脱气及预处理系统,可减少样品处理对测试系统的干扰和损害;可根据样品不同选择合适的处理方式,预处理和测试可同时进行,提高工作效率。配以我公司研制的样品预处理装置-jw吹扫机,可实现市场同类动态法产品无法实现的真空处理; 4. 动态测试方法过程十分直观,可以观察到不同氮分压条件下,氮吸附和脱附的全过程,测试程序手动和自动控制有机结合,有利于对测试过程的灵活掌控; 5. 配套软件由我公司自主开发,功能完善,操作简单,软件无需安装,拷贝后即可直接运行,减少了对计算机系统的依赖性;同时数据归档系统能将客户的每次测试结果及时保存到统一的数据库,有利于客户测试数据的积累、统一管理和后期查询分析。
比表面测试仪广泛应用于石墨、电池、稀土、陶瓷、氧化铝、化工等行业及高校粉体材料的研发、生产、分析、监测环节。
测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,bet法比表面积测定(单点及多点),langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定,t-plot图法外比表面积测定; 测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积); 测量精度:重复性误差小于1.5]; 真空系统:v-sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命; 液位控制:v-sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差; 控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命; 样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理; 压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显着提高低 p/po点下测试精度,0-1000torr(0-133kpa),0-10torr(0-1.33kpa)(可选) 压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10]-15%); 分压范围:p/po 准确可控范围达5x10-6-0.995; 极限真空:4x10-2pa(3x10-4torr); 样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等; 测试气体:高纯n2气(99.999])或其它(按需选择如ar,kr); 数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强; 数据处理:windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表。