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测量硅片表面几何参数,以及电阻率型号等厚度可测中心点,可测全表面2000余点,出最大最小值平整度测量两种测量方式,局部平整度测量4种方式,电阻率测量范围为中心至边缘(尺寸不同,距离边缘距离有差别)。 2100433B
厚度范围400-990μm精确度≤±0.5μmRES低阻测量范围是0.001~0.999Ω·cm;高阻测量范围是0.2~199.9Ω·cm精确度≤±2%平整度精确度≤±0.15μm型号准确无误。
“华翔”品牌在走过的十多年间,得到了政府领导,技术专家与广大客户与消费者的赞赏和支持,03、04年期间,国家质检总局对全国贴面胶合板、细木工板的质量抽查中,居国内装饰板材质量排行榜的首位。在国内率先通...
压电式表面粗糙度仪产品特点:1、可选择4种测量参数Ra、Rz、Rt、Rq;2、采用双屏设计,便于在测量时从顶部视窗读数;3、具有校准功能,操作简单;4、采用ARM处理器进行数据处理和计算,速度快,功耗...
温度测量仪表的种类繁多,但可按作用原理,测量方法,测量范围作如下分类: 温度的测量是借助于物体在温度变化时,它的某些性质随之变化的原理来实现的。但是,并不是任意选择某种物理性质的变化就可做成温度计。用...
路面平整度测量仪误差分析
路面平整度测量仪误差分析——本文根据路面不平度特征,讨论了现有2种路面平整度测量仪存在的问题,并从剐量原理八手进行分析,确定了2种常用路面平整度测量仪器的测量误差量值和变化规律。
《公路交通科技名词》第一版。2100433B
《硅片局部平整度非接触式标准测试方法(GB/T 19922-2005)》由全国有色金属标准化技术委员会归口。本标准起草单位:洛阳单晶硅有限责任公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所。本标准试验验证单位:北京有色金属研究总院。本标准主要起草人:史舸、蒋建国、陈兴邦、贺东江、王文、邓德翼。本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准为首次发布。2100433B
1996年经全国科学技术名词审定委员会审定发布。