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射线荧光分析电子激发X荧光分析

射线荧光分析电子激发X荧光分析

电子激发X荧光分析的轫致辐射本底比PIXE高二个量级以上,因此分析灵敏度低得多。但是,用聚焦的电子束激发样品表面1微米的区域,使产生元素的特征X 射线,可以观察样品表面组成的局部变化。用这种方法能测定合金、矿物、陶瓷等样品中的夹杂物和析出物,决定合金元素的局部富集区等。

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射线荧光分析造价信息

  • 市场价
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PH分析

  • 型号:TPH21AC+TPH-S0C10
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-07
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总磷分析

  • 型号:TEM-TP9000
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-07
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SS分析

  • 型号:TSS10AC+TSS-S0C10
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-07
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COD分析

  • 型号:TEM-COD9000
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-07
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氨氮分析

  • 型号:TEM-NH3N9000
  • 天健创新
  • 13%
  • 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
  • 2022-12-07
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 汕头市2011年3季度信息价
  • 建筑工程
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 汕头市2010年4季度信息价
  • 建筑工程
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 汕头市2010年3季度信息价
  • 建筑工程
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 广州市2009年4季度信息价
  • 建筑工程
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γ射线探伤机

  • 192/IY
  • 台班
  • 汕头市2009年2季度信息价
  • 建筑工程
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电子分析天平

  • 电子分析天平
  • 2台
  • 3
  • 高档
  • 不含税费 | 含运费
  • 2022-09-15
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电子分析天平

  • 电子分析天平BS/BT224S型
  • 1台
  • 3
  • 自拟
  • 中档
  • 含税费 | 含运费
  • 2019-08-02
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电光分析天平

  • 200g/0.1mg
  • 1台
  • 3
  • 无锡建仪仪器机械有限公司、上海浦春、宁波余姚
  • 中档
  • 含税费 | 含运费
  • 2021-11-19
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电光分析天平

  • TG328A 称量200g
  • 4.0台
  • 1
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2015-08-07
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电光分析天平

  • TG328A 测量范围:(0-200)g 校准不确定度:U=0.7mg,k=2
  • 1台
  • 1
  • 上海精科
  • 不含税费 | 不含运费
  • 2015-09-06
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射线荧光分析电磁辐射激发X荧光分析

简称EDXRF。电磁辐射激发一般用X射线管或Fe、Pu、Cd、、Co等放射性同位素作激发源。这时它的探测极限虽不及PIXE,但制样简便,常常可以直接分析原始样品,而且既能分析低含量样品,又能分析高含量样品,因此应用更为广泛。X射线在物质中的穿透能力较大,故能测量较厚样品中的元素平均含量。当使用放射性同位素作激发源时能够制成便携式的仪器,不仅可用于实验室,还可以用于工厂、野外地质和矿山。当使用电子同步加速器或电子储存环发出的高强度偏振辐射作激发源时,探测极限比PIXE好几个数量级。若再使用晶体单色器,还可以制成同步辐射X射线微探针,进行微区分析。

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射线荧光分析带电粒子激发X荧光分析

简称PIXE,它应用的带电粒子可以是质子、α粒子或重离子,目前使用最多的是质子。它是用加速器(常用静电加速器产生的几兆电子伏能量的质子束轰击样品,质子使样品中各元素原子的内层电子电离,接着较外层的电子向内层跃迁,同时发射X射线。由于各种元素发射具有特定波长(或能量)的标识X射线,可利用锂漂移硅探测器及能谱分析仪来确定元素的种类。而标识谱线强度可用来确定元素含量。

在PIXE技术中,可以将原始的样品(如金属、粉末、生物组织)直接作为靶进行分析。这样的靶往往是厚靶,它制备方便,但数据处理比较复杂,灵敏度也差。另一种是将样品进行灰化、溶解等处理,然后把它置于一定的衬底膜上,作为靶进行分析。这类靶称为薄靶,可以不考虑质子在靶中的能量损失和X 射线的自吸收,获得及处理数据都比较容易,灵敏度也好。但制靶工艺比较复杂,容易受到环境的污染。

用PIXE方法作元素测定时,通常有绝对测定法和相对测定法之分。对于薄靶,绝对法的计算含量公式为 ,

式中WjNjAjσXj分别为第 j个元素的含量、特征峰计数、原子量、标识X射线的产生截面,Ω为探头的立体角,εj为探测器对第j个元素的X射线的探测效率,N0为阿伏伽德罗常数,n0为射到靶上的单位面积中的质子数,t为X射线从靶中穿出的透射率。这方法在实际使用时较困难,因实验条件的变化、参量的不稳定都影响测量结果。工作中往往用相对测定法,其中以内标法用得最多。它是将已知量的元素放入靶中作为标准,通过同已知内标相比较来确定待测元素含量。测量数据的处理是质子X荧光分析工作中的一个重要环节。现都采用计算机在线分析。

PIXE方法绝对灵敏度高,绝对探测极限可达10克(指束点面积为几平方毫米),相对灵敏度可达10~10,因此取样量少;这种方法的元素分辨本领好,可进行多元素同时分析,甚至可不破坏样品,适合于对珍贵稀缺的考古样品、生物样品和环境样品等的分析。由于采用计算机在线数据处理,分析速度快。一般一个样品的整个分析过程仅需几分钟。如果将质子束聚焦成直径为几微米的细束,并对样品进行逐点测量,可以得到有空间分辨的元素含量分布图,这时探测极限可改善到10~10克。但是,PIXE方法对于原子序数小于11的元素,因探测器窗吸收等原因,灵敏度很差。

PIXE方法已成为一种有力的分析手段,被广泛地应用于生命科学、环境科学、考古学、法学以及材料科学等方面。

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射线荧光分析电子激发X荧光分析常见问题

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射线荧光分析X射线荧光分析

确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子,使原子发出标识X射线(荧光),通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同,可分成带电粒子激发X荧光分析,电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。

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射线荧光分析参考书目

任炽刚等著:《质子X荧光分析和质子显微镜》,原子能出版社,北京,1981。

张家骅等编著:《放射性同位素X射线荧光分析》,原子能出版社,北京,1981。

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射线荧光分析电子激发X荧光分析文献

X射线荧光分析仪在水泥生产中的应用 X射线荧光分析仪在水泥生产中的应用

X射线荧光分析仪在水泥生产中的应用

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页数: 4页

X 射线荧光分析仪在水泥生产中的应用 祝建清 ,吴松良 (浙江红火集团 江山虎球水泥有限公司 ,浙江 江山 324109) 中图分类号:TQ172.16 文献标识码:B 文章编号:1002-9877(2009)04-0050-04 我公司 于 2008 年 5 月份 引进一台 Venus200 X 射线荧光 分析仪,经过 5 个多月的使用和维护 ,建立 了生料、熟料、废铝土 、石 煤渣、石灰石和铜矿渣 6 条 工 作曲 线 ,能较 稳 定分析各种物料中的 SiO2、Al 2O3、 Fe2O3、CaO、MgO、K2O 和 Na2O 的含量,为生料配料和 2 样片的制备 在水泥行业的应用中 ,熔片法虽然能消除颗粒效 应及矿物效应 ,准确性较好 ,但因操作费时 、成本较高 而尚未被广泛采用 ;压片法则操作简单 、快速 ,是目前 国内水泥厂主要采用的 XRF 制样方法 。我公司采用 压片法 。 2

X射线荧光分析石灰石标样的制作 X射线荧光分析石灰石标样的制作

X射线荧光分析石灰石标样的制作

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页数: 2页

我公司荧光分析制样选择制作成本较低的压片法。该方法虽然分析速度快、精度高,但如果标样配制不好,工作曲线不理想,荧光分析仪就很难发挥它的优势。本文介绍荧光分析石灰石标样的制作过程。

质子激发X射线荧光分析X射线谱

在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素,各元素都发射一组特征X 射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起,直观辨认谱峰相当困难,需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种,并已编制成计算机程序。从解X 射线谱中可得到某一待测元素的特征谱峰的面积(峰计数),根据峰面积可计算出该元素的含量。这种直接计算的办法需要对探测系统标定探测效率、确定探头对靶子所张立体角、测定射到靶子上的质子数等。

在实际分析工作中多采用相对测定法,即将试样和标样同时分析比较,

设试样和标样中待测元素的特征X 射线谱峰计数为NX 和NS,含量为Wx 和WS则得:

Wx=NxWs/Ns

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X射线荧光分析选型误区

随着技术发展,X射线荧光分析仪的种类越来越多,商品名称也比较混乱,再加上用户对相关知识的了解有限,使得用户合理选择仪器的难度大大增加。

误区1

强调"荧光",许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪,一味地强调所谓"荧光"。事实上,如前所述,无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源,只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器,都是X荧光分析仪。

源激发和管激发各有优缺点。源激发类型的仪器结构简单、紧凑,特别是放射性同位素源发出X射线是自然现象,其强度是非常稳定的。虽然有着自然衰减,但这种衰减是遵循可描述的物理规律的,也就是说是我们可以准确计算出来的,而且作为商品化仪器选用的同位素源半衰期都比较长,在短周期内这种衰减几乎反映不出来。放射源的最大弱点在于,它发出的X射线强度小,能量分布不可调。因此可分析元素种类是受限制的,光路的几何布置必须非常紧凑,分析时间相对要长一些,谱线处理和定量分析计算难度较大。

管激发型仪器的激发源是X射线管。与放射性同位素源相比,最大的优点在于其可调节性。通过调节管流和高压,可以在一定范围内改变输出X射线的强度和分布,进而有选择性地提高或减小对某些特定元素的激发效率,提高分析能力。再者,X射线管的输出强度远远高于放射性同位素源,光路的几何布置受限制小,可使用准直器、滤光片、狭缝等进一步提高性能。采用X光管的最大问题在于稳定性,给X光管提供高压的高压电源稳定性必须在万分之三以下,X光管本身还需要冷却,而且环境温度、电网波动等因素都会影响X光管输出X射线的稳定性,从而影响仪器的稳定性。因此,一般来讲,管激发仪器对使用环境及外围条件的要求要比源激发仪器高得多。

误区2

重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果,三者缺一不可。毫无疑问,硬件是基础,但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲,硬件只有通过软件才能充分发挥作用,而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器,一定是建立在分析技术研究基础之上的,否则,它就很难适应众多用户的各种需求,这样的仪器等于没有灵魂。对于软件的考察,绝不能停留在画面的漂亮与否、花样是否齐全等表面文章上 ,关键要看采用的算法是否先进有效,建立在怎样的分析技术基础上,是否适应于主要被分析样品的特性,还要考虑是否适合操作人员的素质和能力。

误区3

重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素,但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大,并且直接决定了仪器的售价,单纯追求价格便宜,很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说,服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等,更重要的是应用技术服务。对于大多数用户来讲,是不具备自行研究分析技术并用于指导应用的,这种情况下,技术服务显得尤为重要。

误区4

听别人多,看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察,一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况,作一些相互比较;另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如:以全厂质量控制为主要目的,样品种类多,需要做全分析,准确度要求高,应用环境比较好,可以考虑X荧光光谱仪;以生产过程控制为主要目的,应用环境较差则可考虑多元素分析仪、钙铁仪等源激发类仪器;原料不太好、波动大,没有预均化措施或很简陋,分析仪器要配置高一些,最好考虑在线分析仪器,在线钙铁仪加多元素分析仪或小型多道X荧光光谱仪便是很好的组合,当然,有条件的可以上中子活化在线分析仪,而原料稳定、预均化很有效,分析仪器的配置则可以低一些,多元素分析仪甚至离线钙铁仪便可以解决问题;操作人员素质较高,仪器可以选择小型多道X荧光光谱仪等功能多样、灵活性较大的,反之则应考虑选择功能单一、操作简单的源激发类仪器。

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X射线荧光分析仪器分类

根据分光方式的不同,X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类,也 就是通常所说的能谱仪和波谱仪,缩写为EDXRF和WDXRF。

通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为能谱仪,通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。

根据激发方式的不同,X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种:用放射性同位素源发出的X射线作为原级X射线的X荧光分析仪称为源激发仪器;用X射线发生器(又称X光管)产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。

就能量色散型仪器而言,根据选用探测器的不同,X射线荧光分析仪可分为半导体探测器和正比计数管两种主要类型。

根据分析能力的大小还可分为多元素分析仪器和个别元素分析仪器。这种称 呼多用于能量色散型仪器。

在波长色散型仪器中,根据可同时分析元素的多少可分为,单道扫描X荧光光谱仪、小型多道X荧光光谱仪和大型X荧光光谱仪。

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